redalyc.org
Sistema de Información Científica Redalyc
Red de Revistas Científicas de América Latina y el Caribe, España y Portugal
Comparte la página de este artículo:
English

Characterization by photoreflectance of Eo´ and E1 silicon-like critical points in ion implanted Si1-yCy thin films

M. Melendez-Lira ;
Superficies y vacío 2005, 18 (3)


uaem-pie
Sistema de Información Científica Redalyc
Red de Revistas Científicas de América Latina y el Caribe, España y Portugal
Universidad Autónoma del Estado de México
Versión 2.2 beta | 2015
redalyc@redalyc.org
Pie piepag
Versión normal |Versión básica